一、考試范圍及要點
1、半導體的晶格結構和電子狀態;
2、雜質和缺陷能級;
3、載流子的統計分布;
4、載流子的散射及電導問題;
5、非平衡載流子的產生、復合及其運動規律;
6、半導體的表面和界面─包括p-n 結、金屬半導體接觸、半導體表面及MIS 結構、異質結;
7、半導體的光、熱、磁、壓阻等物理現象和非晶半導體部分。
二、考試形式與試卷結構
1、答卷方式:閉卷,筆試
2、答卷時間:180 分鐘
3、題型:選擇題,填空題,簡答題(包含名詞解釋),論述題
4、各部分內容比例
試卷滿分為 150 分,選擇題、填空題50 分,簡答題(包含名詞解釋)40 分,論述題60 分
參考書目名稱 作者 出版社 版次 年份
半導體物理學 劉恩科,朱秉升,羅晉生 電子工業出版社 2008
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